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Suchworte

Atomic Force Microscope (AFM), Auger-Elektronen-Spektrometrie (AUGER), Energie-Dispersive-Röntgenstrahlung (EDX), Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy (GDOES), Lichtmikroskopie, Rasterelektronenmikroskopie (REM), Röntgenphotoelektronenspektroskopie (ESCA), Metallographie, Time of Flight-Sekundärionenmassenspektroskopie (ToF-SIMS)

Branchen

Wissenschaftliche Institute und Vertragsforschung